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著者 | 小柳光正 |
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出版社 | 丸善出版 |
ジャンル | 専門書 |
ISBNコード | 9784621043523 9784621043950 |
登録日 | 2018/02/10 |
リクエストNo. | 66441 |
リクエスト内容
サブミクロンデバイス I
http://pub.maruzen.co.jp/book_magazine/book_data/search/4621043528.html
VLSIは、サブミクロン時代に入ったが、二次元効果や高電界化の問題、高集積化されたデバイスの信頼性の確保と問題はつきない。本書はショートチャネルMOSトランジスタの動作原理から説き起こし、基礎から本格的に解説。
サブミクロンデバイス II
http://pub.maruzen.co.jp/book_magazine/book_data/search/4621043951.html
VLSIデバイスは、ここにきて、数々の深刻な問題と直面することになった。本書Iの続編として、ゲート絶緑膜の信頼性、ホットキャリア注入、ソフトエラーなど、現在抱えている最先端の技術課題について根底から詳説している。
投票コメント
全1件
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MOSの、動作特性・プロセス・信頼性評価について、網羅した本は他になかなか無いから。 (2018/02/10)GOOD!0
読後レビュー
NEWS
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2018/02/10
『サブミクロンデバイス I』(小柳 光正)の復刊リクエスト受付を開始しました。
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